Ir al contenido principal
Logo UNSAM
                 
logo-UNSAM

UNSAM

logo-UNSAM

Biblioteca Central

Buscador de Recursos UNSAM

Avanzado
Biblioteca Central de la UNSAM
Catálogo
Recursos digitales
Formación
Servicios
Libros electrónicos
Asociate
Reglamentos
Reservas de salas
Red de Bibliotecas UNSAM

Cristalografía y Difracción de Rayos X
Volver
Unidad Académica Instituto de Tecnología Prof. Jorge Sabato
Carrera Maestria en Ciencia y Tecnología de Materiales
Nivel de carrera Posgrado
Docente/s Dra. Norma Mingolo
Director/a Dr. Manuel Iribarren
Ubicación dentro del Plan de Estudios Tramo Inicial
Carga Horaria Total
Cuatrimestre de Cursada Presencial
Lugar de Cursada Instituto Sabato (Av. Gral. Paz 1499, San Martín, Pcia. BsAs)
Días/Horario y Lugar de Cursada Lunes, Martes, Miércoles, Jueves, Viernes 9 a 17
Forma de acreditación Examen final
Contenidos Mínimos Representación geométrica del orden cristalino: Direcciones y planos (índices de Miller), Redes de Bravais, Proyección estereográfica - La estructura cristalina: Elementos de simetría, Grupos espaciales, Modelo de esferas rígidas, Compuestos iónicos y metálicos - Teoría cinemática de la difracción: Ley de Bragg, Red Recíproca, Factor de estructura, Intensidad difractada por un policristal, Esfera de Ewaldn - Producción de Rayos-X: Espectros continuo y discreto, Factor de absorción - Técnicas Experimentales: Características fundamentales del Difractómetro, Diagrama de difracción - Aplicaciones: Identificación de compuestos cristalinos, Medición de Tensiones Residuales, Análisis de la estructura cristalina, Medición cuantitativa de fases, Determinación de la textura cristalográfica de chapa.
Modalidad de Enseñanza Teórica-Práctica
Carreras Destinatarias Carreras con afinidad disciplinar en la misma u otra Unidad Académica
Nivel destinatario Nivel Posgrado
Nivel de Avance requerido para el estudiante destinatario Medio
Conocimientos previos requeridos
Cupos Disponibles 5
Créditos